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ST-800分析探针测试台

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ST-800分析探针测试台

该设备是分析型探针台。结构性能稳定,操作便捷可实现芯片及LD/LED/PD测试,微米级电极 /PDA测试、PCB封装器件测试、器件IV/CV特性测试、高频测试、射频测试等
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所属分类
探针测试
1
产品描述
参数

该设备是分析型探针台。结构性能稳定,操作便捷可实现芯片及LD/LED/PD测试,微米级电极 /PDA测试、PCB封装器件测试、器件IV/CV特性测试、高频测试、射频测试等

The equipment is an analytical prober. With stable structure and performance and convenient operation, it can realize chip and LD / LED / PD test, micron electrode / PDA test, PCB packaging device test, device IV / CV characteristic test, high frequency test.

 

主要技术指标  Main Specifications

 

可测片径

3"、4"、5"、6"、8"

Wafer Size

3"、4"、5"、6"、8"

工作台行程

240mm×260mm

Working Stage Travel

240mm×260mm

工作台操作方式

手动

Working Stage Operation

Manual

承片台Z向行程

10mm

Chuck Z-axis Travel

10mm

θ向调节范围

±45°

θ Rotation Angle

±45°

显微镜

放大倍数16×~100×/20×~4000×

Microscope

Magnification 16×~100×/20×~4000×

照明

照明光纤

Lighting

Fiber optic lighting

上、下片方式

手动方式

Manual Load/Unload

外形尺寸

660mm×660mm×750mm

Outline Dimension

660mm×660mm×750mm

重量

约60Kg

Weight

60Kg

 

特殊配置  Special Configure

 

可配高倍率显微镜

可选

High magnification microscope

optional

可加装视频显示系统

可选

Video display system

optional

可配电磁屏蔽柜

可选

EMI shield

optional

可配8”吸片盘、加热温控吸片盘

可选

8" chuck and heating temperature control

optional

 

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